Questo lavoro è stato portato avanti dal team SIAM (Spectroscopy and Atomic Imaging of Materials) dell'Università Cadi Ayyad. Si tratta di utilizzare la tecnica SIPS per studiare la luminescenza di campioni di Ni, Cr, Ti e degli ossidi NiO e Cr2O3. I bersagli sono bombardati con ioni Kr+ da 5 keV con un angolo di 65 rispetto alla normale e l'intervallo spettrale esplorato va dal vicino UV al visibile. Gli studi effettuati possono essere riassunti come segue: * Dimostrazione delle emissioni ottiche dai prodotti di sputtering di tre metalli: nichel, cromo e titanio e dei loro ossidi, bombardati nel vuoto (meglio di 10-7 torr). * Interpretazione dell'effetto dell'ossigeno sugli spettri di luminescenza. * Esame e applicazione del modello di scambio di elettroni. Stima dell'affinità elettronica e del band gap degli ossidi.