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Redes Holograficas y Dano Fotorrefractivo En Guias Opticas

AUTHOR Villarroel Freites, Javier
PUBLISHER Eae Editorial Academia Espanola (03/22/2012)
PRODUCT TYPE Paperback (Paperback)

Description
En este trabajo se presenta el estado del arte en lo relativo al dano optico en materiales fotorrefractivos. Entender este fenomeno es de gran relevancia debido a que afecta a un numero importante de aplicaciones fotonicas, que podrian significar el futuro de las telecomunicaciones. Para ello en este documento se lleva a cabo un estudio riguroso experimental de este fenomeno y se desarrolla un modelo teorico para explicarlo. La combinacion de ambas aproximaciones (teorica y experimental) logra explicar de manera detallada al dano optico, permitiendo tener el conocimiento necesario para generar aplicaciones donde se puede controlar totalmente la aparicion de este efecto tan danino, aumentando la eficiencia de operacion y la vida util de los dispositivos."
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Product Format
Product Details
ISBN-13: 9783848460144
ISBN-10: 3848460149
Binding: Paperback or Softback (Trade Paperback (Us))
Content Language: Spanish
More Product Details
Page Count: 148
Carton Quantity: 54
Product Dimensions: 6.00 x 0.34 x 9.00 inches
Weight: 0.50 pound(s)
Country of Origin: US
Subject Information
BISAC Categories
Science | Physics - Electricity
Descriptions, Reviews, Etc.
publisher marketing
En este trabajo se presenta el estado del arte en lo relativo al dano optico en materiales fotorrefractivos. Entender este fenomeno es de gran relevancia debido a que afecta a un numero importante de aplicaciones fotonicas, que podrian significar el futuro de las telecomunicaciones. Para ello en este documento se lleva a cabo un estudio riguroso experimental de este fenomeno y se desarrolla un modelo teorico para explicarlo. La combinacion de ambas aproximaciones (teorica y experimental) logra explicar de manera detallada al dano optico, permitiendo tener el conocimiento necesario para generar aplicaciones donde se puede controlar totalmente la aparicion de este efecto tan danino, aumentando la eficiencia de operacion y la vida util de los dispositivos."
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